Test na simulatoru

Shenzhen Shenchuang Hi-tech Electronics Co., Ltd (SChitec) je visokotehnološko poduzeće koje se specijaliziralo za proizvodnju i prodaju telefonskih dodataka. Naši glavni proizvodi uključuju putne punjače, auto punjače, USB kablove, power banke i druge digitalne proizvode. Svi proizvodi su sigurni i pouzdani, sa jedinstvenim stilovima. proizvodi prolaze sertifikate kao što su CE, FCC, ROHS, UL, PSE, C-Tick, itd. , Ako ste zainteresovani, možete direktno kontaktirati ceo@schitec.com.

Budite sigurni da se punite uz SCHitec

Test na simulatoru

Testirajte sa OP AMP-om. Koncept "Virtuelne Zemlje" iz tačke "a" je sljedeći:

Ix=Iref

∴Rx {{0}} Vs/ V0*Rref

Vs i rref su izvor pobudnog signala i otpor proračuna instrumenta. Ako se mjeri V0, RX se može izračunati.

Ako je Rx za mjerenje kapacitivnost i induktivnost, tada je izvor signala u odnosu na AC, Rx je oblik impedanse, a C ili l se također mogu izračunati.

1.2 čuvanje

Gornja metoda ispitivanja je za nezavisne uređaje, ali uređaji u stvarnom kolu su povezani i međusobno djeluju, tako da IX 笽 ref mora biti izoliran tokom testa. Izolacija je osnovna tehnologija online testiranja.

U gornjem kolu, zbog šanta veze R1 i R2, jednačina IX 笽 ref, RX=vs / V0 * rref nije važeća. U testu, sve dok su G i F na istom potencijalu, nema struje koja teče kroz R2, a i dalje postoji jednačina IX=Iref, RX ostaje nepromijenjen. Kada je G tačka uzemljena, izolacija se može realizovati jer je f tačka virtuelno uzemljena i potencijal dve tačke je jednak. U praksi, G i F su ekvipotencijalni kroz izolovani operacioni pojačavač. ICT tester može pružiti mnogo izolacijskih tačaka kako bi se eliminirao utjecaj perifernog kola na test.

1.2 IC test

Za digitalnu IC, koristite vektorski test. Vektorski test je sličan mjerenju tablice istinitosti, koja pobuđuje ulazni vektor, mjeri izlazni vektor i procjenjuje kvalitet uređaja kroz stvarni test logičke funkcije.

Na primjer: Test NAND kapije

Za test analognog IC-a, odgovarajući izlaz se može izmjeriti prema stvarnom naponu pobude funkcije i struji IC-a, što se smatra testom funkcionalnog bloka.

Nevektorski test

Sa razvojem moderne proizvodne tehnologije i upotrebom VLSI, često je potrebno dosta vremena za pisanje programa vektorskog testiranja uređaja, kao što je testni program 80386, koji vještom programeru traje skoro pola godine. Uz ekstenzivnu primjenu SMT uređaja, fenomen kvara otvorenog kruga pinova uređaja postaje sve izraženiji. Iz tog razloga, Teradyne je lansirao Xpress tehnologiju nevektorskog testiranja, koju predstavlja Multiscan; GenRad.

2.1 delta scan analogna tehnologija ispitivanja spoja

Deltascan koristi ESD zaštitu ili parazitske diode koje gotovo svi pinovi digitalnih uređaja i većina pinova uređaja s mješovitim signalom za testiranje istosmjerne struje nezavisnih parova pinova testiranih uređaja. Kada se napajanje ploče prekine, ekvivalentno kolo bilo koje dvije igle na uređaju je prikazano na donjoj slici.

1.dodajte negativni napon na masu na pin a, i struja ia teče kroz prednju diodu na pin a. Izmjerite struju ia kroz pin a.

2 održava napon na pin a, dodaje veći negativni napon na pin B, a struja IB teče kroz prednju diodu na pinu B. Struja IA je smanjena zbog dijeljenja struje unutar zajedničkog otpora podloge iz pina a i pin B na masu.

3 ponovo izmerite struju ia kroz pin a. Ako se ia ne promijeni (delta) kada se napon dovede na pin B, mora postojati problem sa vezom.

Deltascan softver sintetizuje rezultate testova dobijene od mnogih mogućih parova pinova na uređaju, kako bi se dobila tačna dijagnoza kvara. Signalni pin, pin za napajanje i uzemljenje, kao i supstrat, svi učestvuju u deltascan testu, što znači da osim isključenja pina, deltascan može otkriti i greške u proizvodnji kao što su nedostatak uređaja, obrnuto umetanje i isključenje žice.

GenRad testovi se nazivaju junction Xpress. Također koristi karakteristike diode u IC-u, ali se test realizuje mjerenjem karakteristika spektra (drugi harmonik) diode.

Deltascan tehnologija je prva tehnologija bez dodatnog hardvera.

2.2 test kapacitivnog spajanja okvira skeniranja

Framescan koristi kapacitivnu spregu za otkrivanje isključenja pinova. Svaki uređaj ima kapacitivnu sondu na sebi. Kada pin pobuđuje signal, kapacitivna sonda hvata signal. Kao što je prikazano na slici:

1. Višekanalna sklopna ploča na uređaju bira kapacitivnu sondu na uređaju.

2 analogna testna ploča (ATB) u testeru šalje AC signal na svaki pin redom.

3. Kapacitivna sonda prikuplja i baferuje AC signal na pinu koji se testira.

4 ATB mjeri AC signal koji je uhvatila kapacitivna sonda. Ako je pin ispravno spojen na ploču, signal će biti izmjeren; ako je pin isključen, neće biti signala.

GenRad tehnologija se zove open Xpress. Princip je sličan.

Ovom tehničkom uređaju su potrebni senzori i drugi hardver, a cijena testiranja je nešto veća.